CIA-700 全自動清潔度檢查系統(tǒng)（全檢版）
Automatic Cleanliness Inspection System

1、 全自動的分析系統(tǒng) Automatic Analysis System

系統(tǒng)組成：*奧林巴斯（OLYMPUS）顯微鏡、*電動臺,自動拍照系統(tǒng)、全自動清潔度分析軟件，DELL高性能計(jì)算機(jī)等。

顯微鏡
*奧林巴斯（OLYMPUS）顯微鏡SZ61，適合25微米以上雜質(zhì)的檢測。
自動掃描臺
德國進(jìn)口自動，行程76X52mm,zui小步進(jìn)0.01微米。
檢測范圍
整個濾膜
檢測內(nèi)容
雜質(zhì)尺寸
雜質(zhì)數(shù)量
雜質(zhì)形狀分類：顆?；蚶w維
雜質(zhì)性質(zhì)分類：反光（金屬），亞光（非金屬，金屬氧化物）
清潔度標(biāo)準(zhǔn)
ISO4406、ISO4407、ISO16232、NAS1638、VDA19、GB/T 20082、GB/T 14039，工廠自定義
清潔度自動評級
自動，可編輯
清潔度報(bào)告
自動，可編輯
zui小檢測尺寸
25微米

按照ISO16232的基本原則，可對濾膜上大于25微米的雜質(zhì)進(jìn)行精確檢測。
自動掃描整個試樣（通常是濾紙）、自動拍照，顆粒自動識別、統(tǒng)計(jì)、分析，自動檢查清潔度、自動生成專業(yè)分析報(bào)告；
檢測流程和內(nèi)容包括：
1） 對直徑47毫米（或更?。┑臑V紙進(jìn)行自動和高精度掃描，全自動圖像拼接，全自動拍照。
2） 對所拍攝的雜質(zhì)，自動檢測其數(shù)量，尺寸，形狀等參數(shù)。
3） 依據(jù)雜質(zhì)的反光和亞光在圖像上的灰度差別，為金屬與非金屬顆粒的判定和判定提供zui直接的參考數(shù)據(jù)和影像。
4） 依據(jù)不同長寬比的設(shè)定對纖維與非纖維進(jìn)行精確分類。

5） 按照各種國內(nèi)及標(biāo)準(zhǔn)：包括ISO4406、ISO4407、ISO16232、NAS1638、VDA19、GB/T 20082、GB/T 14039等，以及客戶自定義的標(biāo)準(zhǔn)，自動生成專業(yè)的清潔度評級和分析報(bào)告。

2、 自動掃描樣品 Auto Scan，Support Multiple Scanning Area
支持多種掃描方式：矩形區(qū)域、圓形區(qū)域、環(huán)形區(qū)域、扇形區(qū)域等；滿足各種應(yīng)用需要；

3、 自動拍照、視場自動定位 Automatic Camera and Field Position
采集過程自動拍照、照片自動保存，進(jìn)度狀態(tài)實(shí)時可見；照片信息存入數(shù)據(jù)庫，方便查詢；
提供視場圖片瀏覽功能，可以實(shí)現(xiàn)視場定位回溯、重新拍照等功能

4、 多種檢測標(biāo)準(zhǔn) Multi Testing Standard
支持多種國內(nèi)及標(biāo)準(zhǔn)：包括ISO4406、ISO4407、ISO16232、NAS1638、VDA19、GB/T 20082、GB/T 14039等；支持用戶自定義評級標(biāo)準(zhǔn)；可以對纖維進(jìn)行統(tǒng)計(jì)。系統(tǒng)定期更新標(biāo)準(zhǔn)

。

5、 統(tǒng)計(jì)與分析 Analysis and Statistics
系統(tǒng)自動識別顆粒、自動分析顆粒類別、自動統(tǒng)計(jì)顆粒參數(shù)。同時支持修改顆粒。提供多種統(tǒng)計(jì)分析工具：MAP圖、顆粒列表、統(tǒng)計(jì)結(jié)果、直方圖等；

6、 專業(yè)清潔度報(bào)告 Professional Cleanliness Report
支持模板化報(bào)告生成模式，包含統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)、評級、濾片全貌圖、zui大顆粒照片等信息；

7、 軟件分析主界面 Software Interface
主界面包含多種數(shù)據(jù)展示方式：map圖、顆粒分析結(jié)果、顆粒數(shù)據(jù)列表、統(tǒng)計(jì)直方圖等。

8、自動掃描臺M?rzh?user AUTO STAGE
德國M?rzh?user原裝高精度電動掃描型；行程76×50mm。 zui小步進(jìn):0.02
米，精度:+/-3微米重復(fù)性:<1微米。