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武漢鑠思百檢測(cè)技術(shù)有限公司
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更新時(shí)間：2023-12-23 10:16:36瀏覽次數(shù)：285次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 包裝印刷網(wǎng)儀器名稱：場(chǎng)發(fā)射透射電鏡（TEM）型號(hào)：TecnaiG2F30/F20JEOL-2100FFIB+球差校正電鏡檢測(cè)項(xiàng)目：形貌觀察（磁性、非磁樣品、生物樣均可）選區(qū)電子衍射（環(huán)衍射、點(diǎn)衍射）高分辨像（磁性、非磁樣品、生物樣均可）EDS能譜（點(diǎn)掃、線掃、面掃）明場(chǎng)、暗場(chǎng)Mapping球差電鏡應(yīng)用范圍：可以對(duì)各種材料的物質(zhì)內(nèi)部微結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀察
儀器名稱： | 場(chǎng)發(fā)射透射電鏡（TEM） | 型號(hào)： | Tecnai G2 F30/F20 JEOL-2100F FIB+球差校正電鏡 |
檢測(cè)項(xiàng)目： | 形貌觀察（磁性、非磁樣品、生物樣均可） 選區(qū)電子衍射（環(huán)衍射、點(diǎn)衍射） 高分辨像（磁性、非磁樣品、生物樣均可） EDS能譜（點(diǎn)掃、線掃、面掃） 明場(chǎng)、暗場(chǎng) Mapping 球差電鏡 | ||
應(yīng)用范圍： | 可以對(duì)各種材料的物質(zhì)內(nèi)部微結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀察，電子衍射分析及高分辨電子顯微術(shù)研究，材料粒徑統(tǒng)計(jì)，晶體結(jié)構(gòu)及晶體性能進(jìn)行研究，配合能譜儀可以對(duì)各種元素進(jìn)行定性、及半定量的微區(qū)分析，廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、材料、物理、生物、化學(xué)、環(huán)境、光電子等領(lǐng)域。 | ||
制樣要求： | 塊體樣品，要求樣品大小為直徑3mm的圓，厚度為200nm以下; 粉末和液體樣品，要求樣品能夠均勻分散在支持膜上并且干燥，粉末樣>0.01g,液體樣>5ml; 生物樣可做超薄冷凍切片制； 金屬樣、陶瓷樣、塊狀樣可以FIB制樣； 離子減薄需要樣品機(jī)械磨樣到100um。 有3D-TEM、EELS、STEM、超薄冷凍切片、FIB、鋨酸熏染制樣等需求可進(jìn)一步咨詢。 | ||
PS：送樣請(qǐng)附帶“委托測(cè)試單"。TEM測(cè)試要求模板（附本）? 點(diǎn)擊下載
測(cè)試提示：
1.第三方檢測(cè)，可開(kāi)正規(guī)測(cè)試發(fā)票，附帶測(cè)試清單。
2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測(cè)試人員，測(cè)試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測(cè)或會(huì)對(duì)儀器產(chǎn)生損傷，測(cè)試后會(huì)對(duì)樣品產(chǎn)生哪些變化；
3.客戶需提供詳細(xì)的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細(xì)測(cè)試參數(shù)及條件。和測(cè)試人員充分討論，商定最終測(cè)試條件；
4.測(cè)試人員與顧客通過(guò)或郵件溝通，出現(xiàn)測(cè)試糾紛，郵件或記錄將作為重要的仲裁依據(jù)；請(qǐng)加和技術(shù)人員交流：。
5.杜絕測(cè)試、解析和合成違反國(guó)家相關(guān)法律法規(guī)的樣品，一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。
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