詳細(xì)摘要: PLS Plus激光微地貌掃描儀基于三角測量原理測量地表微地貌高程,采用激光掃描獲取各點高程,測量精度可以達(dá)到亞毫米級,測量過程無需接觸土壤表面,解決了測針法對...
產(chǎn)品型號:所在地:更新時間:2023-06-10 在線留言印前設(shè)備 印刷機械 印后設(shè)備 裝訂設(shè)備 廣告設(shè)備 辦公設(shè)備 印刷機械配件 其它印刷相關(guān)器材 其它印刷設(shè)備
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