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掠入射平場光柵光譜儀251MX 返回列表頁

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更新時間：2023-06-12 08:02:58瀏覽次數(shù)：417次

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產(chǎn)品分類品牌分類

真空紫外光譜儀

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產(chǎn)品簡介

掠入射平場光柵光譜儀251MX251MX極紫外掠入射平場光柵光譜儀外形及光路排布251MX采用在軟X射線診斷領(lǐng)域廣受歡迎的掠入射平場光柵架構(gòu)

詳情介紹

掠入射平場光柵光譜儀251MX

251MX極紫外掠入射平場光柵光譜儀外形及光路排布

251MX采用在軟X射線診斷領(lǐng)域廣受歡迎的掠入射平場光柵架構(gòu)。其入射角為87°，確保極紫外波段的反射率；采用變柵距（Variable Line-Space, VLS）光柵的柵線非均勻分布，將羅蘭圓像場矯正為平場，適合直接探測CCD相機等平面探測器采集。多樣化的光柵選擇使得251MX可滿足1~200nm的攝譜需求。光譜儀可容納兩塊光柵，推拉式切換；支持探測器平動以擴展攝譜范圍。251MX內(nèi)置零級擋板，可在保持真空的前提下調(diào)節(jié)擋板位置，以阻擋零級光。

產(chǎn)品特點

l 1nm ~ 200nm；

l VLS光柵，整個像面保持高分辨率；

l 無需掃描，穩(wěn)定、便利；

l 1E-6高真空；超高真空可選；

典型應用

l 高次諧波

l 極紫外光源研發(fā)

l 激光等離子體、高溫等離子體、Z-Pinch、磁約束等離子體

l X射線激光，自由電子激光

l 極紫外光學系統(tǒng)測試

主要參數(shù)

光學設(shè)計	掠入射像差校正平場設(shè)計
入射角	87°
焦面	25mm
探測器	可平動、轉(zhuǎn)動
波長范圍	1nm ~ 200nm，取決于光柵
光柵尺寸	50×30mm
光柵支架	雙位，真空下可切換
零級擋板	標配，真空下可調(diào)
狹縫	0.01 ~ 3mm連續(xù)可調(diào)；高度可置
真空	標準：1E-6 Torr；可選UHV

可選光柵

刻劃密度 (g/mm)	120	300	1200	2400
偏轉(zhuǎn)角（°）	170	170	170	174.4
分辨率（nm）	~0.3	~0.12	~0.028	~0.01
平場范圍（nm）	50~200	20~80	5~20	1~5