SIRIUS Compact Scan 2M

經(jīng)典型三維光學(xué)掃描儀

作為一款輕便、高度移動性的3D 光學(xué)掃描儀，SIRIUS Compact Scan 系列同樣采用的藍(lán)光技術(shù), 結(jié)合ScanTEK Softeware 專業(yè)測量軟件, 為您提供一套完整的, 性價比更高的掃描系統(tǒng)。

產(chǎn)品特點：
智能三維光學(xué)動態(tài)測量技術(shù)，自動拼接，輕松獲取工件表面高精度、高密度的三維點云數(shù)據(jù)；
面輪廓掃描方式，*效率，高分辨率的體現(xiàn)工件細(xì)節(jié)；
通過安裝不同的鏡頭組，可以覆蓋數(shù)毫米至數(shù)米范圍內(nèi)的工件掃描，不僅掃描速度快，還可以兼顧邊界、特征的掃描；
掃描頭通過特殊防護(hù)設(shè)計，可以實現(xiàn)生產(chǎn)車間的現(xiàn)場測量；
千兆網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)接口設(shè)計，保障了數(shù)據(jù)超快傳輸?shù)耐瑫r，不失真。

技術(shù)規(guī)格：