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XT H 450 LC，用于葉片和鑄件的CT檢測(cè)，
帶有高功率450kV微焦點(diǎn)X射線源
Metris XT H 450 LC建立了渦輪葉片測(cè)量和中小鑄件NDT檢測(cè)的新參考標(biāo)準(zhǔn)。這臺(tái)功能強(qiáng)大的設(shè)備的核心部件是一個(gè)450kV微焦點(diǎn)源，可提供超高分辨率和超高精度。
彎曲的線性陣列探測(cè)器通過消除散射現(xiàn)象，優(yōu)化了X射線圖像的采集，散射現(xiàn)象通常會(huì)影響葉片和其它金屬件的二維射線照片。該探測(cè)器是一臺(tái)非常靈活的設(shè)備，可處理小金屬件到大金屬件，例如葉片、鑄件等
優(yōu)點(diǎn)
- 可靈活地整合在單個(gè)系統(tǒng)中：X射線可用于快速目視檢測(cè)，CT可用于深入分析
- 快速數(shù)據(jù)采集和高質(zhì)量圖像
- 高分辨率數(shù)字成像和處理
- 嵌入式安全裝置可使操作人員安全地操作該系統(tǒng)，無需任何特殊的預(yù)防措施或安全警示標(biāo)志
特性
- *的450kV微焦點(diǎn)源
- 測(cè)量體積可達(dá)600mm直徑和600mm高度
- 高效線性探測(cè)器，>80%量子檢測(cè)有效率
- 五軸*可編程托盤式操縱器，帶精密滾珠絲桿和線性滑軌
- 特別適用于渦輪葉片的自動(dòng)通過/不通過檢測(cè)
應(yīng)用
- 渦輪葉片內(nèi)部結(jié)構(gòu)的詳細(xì)分析
- 葉片的自動(dòng)通過/不通過檢測(cè)
- 需要微米精度的高密度部件檢測(cè)（例如金屬件、鑄件）
