鍍層x射線膜厚儀(bowman)應用范圍
* 測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從17(Cl)到92(U);
* 5 層 (4 鍍層 + 基材) / 24 元素 / 共存元素校正;
* 組成成分分析時可同時測定24種元素;
* 鍍液中元素含量分析;
* 元素光譜定性分析;
* 基材分析;
生產商及儀器型號:
制造商:美國BOWMAN公司
原產地:美國
型 號:BA 100
鍍層x射線膜厚儀(bowman)是利用X射線熒光(XRF)進行鍍層厚度測量和材料分析,提高過程和質量控制。
采用新改進的基本參數法,無論是無標準片測量還是有標準片測量,都能快速并且準確的獲得測量結果。為了簡化樣品放置,X射線源和數字半導體接收器置于了 BA100 的底部,從而可以采用射線向上的測量技術。
可以勝任測量傳統(tǒng)的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強度不夠而無法測量到的結構。