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環(huán)境試驗設(shè)備的計量項目、計算與方法
點擊次數(shù)：969 發(fā)布時間：2010-9-24
1、名詞解釋：
1）波動度：環(huán)境試驗設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間中心點參數(shù)隨時間的變化量。
2）均勻度：環(huán)境試驗設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間某一時刻各測試點（溫濕度）之間
的差異。
3）偏差：設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測量點的實測zui高值和實測zui低值與標(biāo)
稱值的上下偏差。
2、計量特性：溫濕度偏差、溫濕度波動度、溫濕度均勻性
3、計量方法：
1）計量在空載條件下進(jìn)行。若帶有負(fù)載，應(yīng)在證書中說明負(fù)載情況。
2）計量濁濕度點一般應(yīng)選擇設(shè)備使用范圍的上限、下限及中心點，也可根據(jù)用戶需要選擇實際常用的溫濕度點
3）計量點的位置：
設(shè)備容積小于2m3時，溫度點9個，濕度點3個
設(shè)備容積大于2 m3，溫度點15個，溫度點4個
計算（以溫度為例）
波動度：△tf=±tomax-tomin/2
均勻度：△tu=Σttmax-ttmin/n
I=1
偏差：△Tmax=Tmax-T標(biāo)
△Tmin=Tmin-T標(biāo)2、
現(xiàn)在實行的軍用標(biāo)準(zhǔn)美軍標(biāo)
MIL-STO-810
GJB150~20-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法
GB/T5170-96電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
GB 2423電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗
GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件