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冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber

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所在地區(qū)：北京

聯(lián)系人：楊先生

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

TS系列冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶(hù)選擇，充分滿(mǎn)足不同用戶(hù)的各種要求；設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容；高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性；冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber

詳細(xì)介紹

TS系列冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber



*冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備特點(diǎn)
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶(hù)選擇，充分滿(mǎn)足不同用戶(hù)的各種要求；
設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容；
高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強(qiáng)，使用壽命長(zhǎng)；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減小；
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀(guān)壽命；
高強(qiáng)度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門(mén)的高密封性；
多種可選功能（測(cè)試孔、記錄儀、測(cè)試電纜等）保證了用戶(hù)多種功能和測(cè)試的需要；
大面積電熱防霜觀(guān)察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀(guān)察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求；

*冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber可根據(jù)用戶(hù)要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能

*溫度控制
可實(shí)現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)過(guò)程的全程記錄和追溯；
每臺(tái)電機(jī)均配置過(guò)流（過(guò)熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保了設(shè)備運(yùn)行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿(mǎn)足客戶(hù)的多種需要；
采用流行的制冷控制模式，可以0%~99%自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關(guān)鍵配件均采用，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；

*冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber設(shè)備滿(mǎn)足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)
GJB 150.5A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)


主要技術(shù)指標(biāo):

兩箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱
型號(hào) CTS-50 CTS-120 CTS-180
HxWxD(mm) 內(nèi) 300x460x350 500x610x400 600x660x450
外 2250x1200x1950 2720x1050x1950 2920x1100x2150
性能參數(shù) 高溫室 溫度暴露范圍 ﹢60℃ ～ ﹢200℃
預(yù)熱溫度上限 200℃
升溫時(shí)間 R.T→﹢200℃約40min
低溫室 溫度暴露范圍 0 ～ ﹣75℃
預(yù)熱溫度下限 ﹣75℃
降溫時(shí)間 R.T→﹣70℃約60min
提籃 溫度范圍 ﹣65 ～ 150℃
溫度波動(dòng)度 ≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170﹣1996表示）
溫度偏差 ≤±2℃（﹣65℃ ～ ﹢150℃）
轉(zhuǎn)換時(shí)間 ≤5S
溫度回復(fù)時(shí)間 ≤5min
結(jié)構(gòu) 外箱材質(zhì) 冷軋鋼板表面噴塑（白）
內(nèi)箱材質(zhì) #304鏡面不銹鋼（1.2mm）
隔熱材料 非危廢類(lèi)環(huán)保型玻璃纖維保溫層
制冷 制冷方式 風(fēng)冷或水冷
制冷機(jī) 進(jìn)口壓縮機(jī)
溫度傳感器 鎧裝鉑電阻
控制器 西門(mén)子PLC模塊（含宏展環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備嵌入式PLC控制軟件PlatinumV1.0）+7英寸彩色液晶觸摸控制屏（含宏展環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備嵌入式觸摸屏控制軟件PlatinumV1.0）。
                數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于功能接口 USB數(shù)據(jù)接口：設(shè)備帶有USB存儲(chǔ)接口，存儲(chǔ)信息包括試驗(yàn)時(shí)間、試驗(yàn)?zāi)繕?biāo)值和試驗(yàn)實(shí)測(cè)值等主要運(yùn)行參數(shù)，存儲(chǔ)格式為.csv格式，此文件可由宏展公司上位機(jī)通訊軟件直接生產(chǎn)曲線(xiàn)，該USB接口不支持熱插拔及下載功能，如要用U盤(pán)存儲(chǔ)試驗(yàn)數(shù)據(jù)，需一直讓U盤(pán)處于正常聯(lián)接狀態(tài)。
TCP/IP通訊接口：試驗(yàn)箱帶有RJ45數(shù)據(jù)接口，后期如購(gòu)買(mǎi)上位機(jī)通訊功能后（含宏展環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備嵌入式計(jì)算機(jī)軟件PlatinumV1.0），即可聯(lián)接此接口以實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)管理功能，單臺(tái)試驗(yàn)箱支持5臺(tái)計(jì)算機(jī)同時(shí)訪(fǎng)問(wèn)、上位機(jī)軟件*大可管理32臺(tái)試驗(yàn)箱。
裝機(jī)功率（KVA） 19.7 32 36
電源 AC380V 50Hz三相四線(xiàn)制+接地線(xiàn)
標(biāo)配配置 產(chǎn)品使用說(shuō)明書(shū)、試驗(yàn)報(bào)告1份、合格證及質(zhì)量保證書(shū)各1份、隔板2層、帶腳輪
滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn) GJB150.3、GJB150.4、GJB150.5、GB/T2423.1、GB/T2423.2
詳細(xì)參數(shù)以對(duì)應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格書(shū)為準(zhǔn)


三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱
型號(hào) TSL-80A TSL-150A TSL-225A TSL-408A
TSU-80W TSU-150W TSU-225W TSU-408W
TSS-80W TSS-150W TSS-225W TSS-408W
內(nèi)部尺寸（mm） W 500 600 750 850
H 400 500 500 600
D 400 500 600 800
外形尺寸（mm） W 1460 1560 1710 1880
H 1840 1940 1940 2040
D 1500 1600 1700 1900
試驗(yàn)方式 氣動(dòng)風(fēng)門(mén)切換2溫室或3溫室方式
性能 高溫室 預(yù)熱溫度范圍 ﹢60℃ ～ ﹢200℃
升溫速率 ﹢60→＋200℃≤20分鐘
低溫室 預(yù)冷溫度范圍 ﹣78－0℃
降溫速率 ﹢20→－75℃≤80分鐘
試驗(yàn)室 溫度偏差 ±2℃
溫度范圍
TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃
TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃
TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃
溫度恢復(fù)時(shí)間 5分鐘以?xún)?nèi)
試樣擱架承載能力（kg） 30
試樣重量（kg） 7.5 7.5 10 10
注：外形尺寸（不包括外形凸起部分）；升溫速率和降溫速率（溫度上升和溫度下降均為試驗(yàn)箱單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能）；溫度恢復(fù)條件（室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路）
詳細(xì)參數(shù)以對(duì)應(yīng)產(chǎn)品規(guī)格書(shū)為準(zhǔn)


 冷熱沖擊試驗(yàn)箱 Hot And Cold Shock Test Chamber

---- 不符合此規(guī)格◎符合此規(guī)格★可配增加此功能※可配增加LN2功能
試驗(yàn)規(guī)范
 駐留溫度(℃)
(exposure temp.)
駐留溫度時(shí)間(Min)
(exposure time)
覆歸時(shí)間
(recovery time)
 周期
或次數(shù)
試驗(yàn)起
始點(diǎn)
備注
適用機(jī)臺(tái)型號(hào)
TS-(80/150/225/408)
高溫
室溫
低溫
高溫/低溫
室溫
S
U
L
MIL-STD-883E
(Method 010.7)
+85
+10
----
-55
0
≧10min
≦15min
----
含駐留時(shí)間&
轉(zhuǎn)換時(shí)間≦15min
*少
10次
低溫或
高溫
Temperature Cycling
(轉(zhuǎn)換時(shí)間<1min)

實(shí)驗(yàn)過(guò)程若中斷
超過(guò)總實(shí)驗(yàn)之1/10
次則實(shí)驗(yàn)須重做
◎
◎
----
0
+125
+15
◎
◎
----
0
-10
+150
+15
◎
◎
----
0
+150
+15
-65
0
◎
.
----
0
-10
MIL-STD-202F
(Method 07G)
+83
+3
-25
+10
-55
0
28g以下
15～30 Min
28～136g
30Min
136g～1.36Kg
60Min
1.36～13.6Kg
120Min
13.6~136Kg
240Min
Max.
5 Min
5 Min 以?xún)?nèi)
5 cycle
25
50
100
低溫
Transfer time
不超過(guò)5 min
◎
◎
◎
0
-3
+125
+3
-65
0
◎
◎
----
0
-5
-5
+125
+3
-65
0
◎
◎
----
0
-5
JIS C 0025
IEC 68-2-14
GB 2423.22
+70
+85
+100
+125
±2
±2
±2
±2
室溫
-5
-10
-25
-40
-55
-65
±3
±3
±3
±3
±3
±3
3hr
2hr
1hr
30min
或無(wú)定義則
以3hr定義
手動(dòng)轉(zhuǎn)
移時(shí)間
2～3Min
為駐留時(shí)間
之1/10
5 cycle
除非有
其它規(guī)格
低溫
Auto
Transfer time
不超過(guò)30 sec
小試件
Transfer time
不超過(guò)10 sec
★
★
★
◎
◎
◎
◎
◎
◎
◎
◎
◎
◎
◎
◎
◎
◎
----
IPC 2.6.7
+70
±2
----
0
+0
15 Min
----
2 Min 以?xún)?nèi)
100 cycle
高溫
(試驗(yàn)結(jié)束
點(diǎn)在高溫)
Transfer time
不超過(guò)2 min
★
★
★
-0
-5
+85
+5
-40
+0
◎
◎
◎
-0
-5
+105
+5
-55
+0
◎
◎
．
-0
-5
+105
+5
-65
+0
．
．
----
-0
-5
+105
+5
．
．
----
-0
IPC 2.6.6
+85
+3
-25
+10
-55
+0
30 Min
10-15
Min
5 cycle
◎
◎
◎
-0
-5
+125
+3
-5
-65
+0
◎
◎
----
-0
-5
Bellcore
GR-1221-CORE
+70
±2
----
≧10min
≦15min
----
含駐留時(shí)間
&轉(zhuǎn)換時(shí)間≦15min
500 cycle
OR
1000cycle
◎
◎
◎
+80
±2
◎
◎
◎
JESD22
A104-A
+125
+10
-40
+0
≦15min
含駐留時(shí)間
&轉(zhuǎn)換時(shí)間≦15min
抽10次
可接受;
1000次
合格
Temperature
Cycling
(轉(zhuǎn)換時(shí)間<1min)
實(shí)驗(yàn)過(guò)程若中斷
超過(guò)總實(shí)驗(yàn)之1/10
次則實(shí)驗(yàn)須重做
◎
◎
◎
-0
-10
+85
+10
-55
+0
◎
◎
．
-0
+125
+10
-0
-10
+150
+10
-0
+150
+10
-65
+0
◎
．
----


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