詳細摘要： 可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
產品型號：所在地：廣州市更新時間：2024-11-24 在線留言廣州文明機電有限公司
廣州文明機電有限公司
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詳細摘要： 可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
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詳細摘要： 2003年日本電子推出了世界商業(yè)化場發(fā)射電子探針（FE-EPMA），此后被廣泛地應用于金屬、材料、地質等各個領域，并獲得了的贊譽。研發(fā)的第三代場發(fā)射電子探針JX...
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詳細摘要： JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進行觀察分析和操作，是更的一體化集成FE-EPM...
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詳細摘要： JXA-iSP100在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進行觀察分析和操作，是更的一體化EPMA。
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詳細摘要： JEOL新一代場發(fā)射掃描電子顯微鏡的旗艦機型。 它繼承了上一代廣獲好評的性能如的空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等的同時，操作性能極大簡單化。該設備不依賴操作者的...
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詳細摘要： JSM-F100集成了備受推崇的In-lens Schottky Plus Gun和電子光學控制系統(tǒng)Neo Engine，一個新開發(fā)的操作GUI“SEM Cen...
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詳細摘要： JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡
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詳細摘要： JSM-IT500是JEOL InTouchScope系列的新機型。 從設定視野到生成報告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)速度！是一款無縫操作，使用更加方...
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詳細摘要： JEOL InTouchScope™系列的新機型, 采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間...
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詳細摘要： 日常使用的SEM，好用！ 該設備分辨率1nm、探針電流300nA（之前的15倍），可提供豐富的觀測和分析信息，用戶界面操作簡單、設計緊湊、配備大樣品室。
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詳細摘要： JSM-IT800具備高分辨觀察和高速元素面分析，能夠滿足客戶的各種需求。該裝置配備浸沒式肖特基場發(fā)射電子槍、新一代電子光學控制系統(tǒng)Neo Engine、一體化...
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詳細摘要： 由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長很短，即使增大物鏡極靴之間的間隙，也能獲得高分辨率的圖像。此外，電子束具有很強的穿透能力，即使厚樣品也能觀察到清晰...
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詳細摘要： JEM-1400Flash配備了高靈敏度sCMOS相機、超廣視野的蒙太奇系統(tǒng)以及光學顯微鏡圖像的聯動功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射電子顯微...
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詳細摘要： JEM-2100Plus電子顯微鏡，不僅擁有信譽的JEM-2100 的電子光學系統(tǒng)，還增加了的控制系統(tǒng)，大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-2100P...
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詳細摘要： JEM-3200FS場發(fā)射電子顯微鏡配備了加速電壓為300kV的場發(fā)射電子槍（FEG）和鏡筒內置式Ω型能量過濾器，能為廣泛的研究領域提供各種全新的解決方案。
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詳細摘要： CRYO ARM™ 300 II 是一款低溫冷凍透射電子顯微鏡，專門用于觀察如蛋白質等對電子束敏感的樣品，可進行單顆粒分析、斷層掃描和MicroED...
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詳細摘要： “NEOARM" 標配了日本電子獨自開發(fā)的冷場發(fā)射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的...
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詳細摘要： JEM-ARM300F實現了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡...
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詳細摘要： JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代產品，該設備在性能上有了進一步的提高，無論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間分辨率圖像和高靈敏度的元素分...
產品型號：所在地：廣州市更新時間：2024-11-24 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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