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Keithley 參數(shù)化測試系統(tǒng)

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產(chǎn)品簡介

Keithley參數(shù)化測試系統(tǒng)當今的模擬和功率半導體技術（包括GaN和SiC）要求進行參數(shù)測試，以便大限度提高測量性能、支持廣泛的產(chǎn)品組合以及大限度降低測試成本

詳細介紹

Keithley 參數(shù)化測試系統(tǒng)

當今的模擬和功率半導體技術（包括 GaN 和 SiC）要求進行參數(shù)測試，以便大限度提高測量性能、支持廣泛的產(chǎn)品組合以及大限度降低測試成本。40 多年來，吉時利已經(jīng)在關鍵應用中解決了這些問題以及其他重要挑戰(zhàn)，這些應用包括工藝整合、工藝控制監(jiān)控、生產(chǎn)芯片分類（例如，晶片驗收或已知的良好芯片測試），以及可靠性。

帶有 KTE 7 軟件的吉時利 S530 系列參數(shù)測試系統(tǒng)提供高速、靈活的配置，能夠隨著新應用的出現(xiàn)和需求變化而不斷發(fā)展。S530 可進行高達 200 V 的測試，而 S530-HV 可以在任何引腳上進行高達 1100 V 的測試，與競爭解決方案相比，吞吐量提高了 50%。KTE 7 的新增功能是促成直接對接探測器和原有探頭卡重新使用的可選系統(tǒng)測試頭，支持汽車標準 IATF-16949 要求的系統(tǒng)級 ISO-17025 引腳校準，以及從原有的 S600 和 S400 系統(tǒng)進行遷移的簡單、順暢的路徑，具有完整的數(shù)據(jù)關聯(lián)性并提高了速度。

540 參數(shù)測試系統(tǒng)是一個全自動化的 48 引腳參數(shù)測試系統(tǒng)，適用于高達 3kV 的功率半導體器件和結構的晶片級測試。集成式 S540 已針對包括碳化硅 (SiC) 和氮化鎵 (GaN) 在內(nèi)的新復合功率半導體材料進行優(yōu)化，可以在單次測試觸摸中執(zhí)行所有高電壓、低電壓和電容測試。

S500 集成式測試系統(tǒng)是高度可配置的、基于儀器的系統(tǒng)，適用于器件、晶片或暗盒級半導體檢定。S500 集成式測試系統(tǒng)基于我們經(jīng)過驗證的儀器，提供創(chuàng)新的測量功能和系統(tǒng)靈活性，并且根據(jù)您的需求可進行擴展。的測量能力結合強大而靈活的自動化檢定套件 (ACS) 軟件，提供市場上其他同類系統(tǒng)無法提供的廣泛應用和功能。