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LIBS技術(shù)與XRF技術(shù)的比較

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更新時間:2022-09-26 08:50:24瀏覽次數(shù):300次

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產(chǎn)品簡介

詳細介紹

LIBS技術(shù)出現(xiàn)迄今已有50年的歷史,但直到近十年來,LIBS技術(shù)的發(fā)展才呈現(xiàn)了突飛猛進的勢頭,受到越來越多科研人員的關(guān)注,被用來定性和定量分析氣溶膠、土壤、植物、金屬、礦石等物質(zhì)中的元素和組分,在諸多領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。

XRF技術(shù)從20年前開始廣泛應(yīng)用于樣品元素分析的研究,應(yīng)用領(lǐng)域有材料、玻璃、陶瓷、地球化學及法醫(yī)等。目前,XRF技術(shù)占光譜儀的27%,并且還在繼續(xù)增長。

LIBS技術(shù)與XRF技術(shù)之所以被廣泛應(yīng)用,是由于市場對簡單快速元素分析方法的需求。與以往的分析方法相比,這兩種分析技術(shù)不需要復雜的樣品前處理,無損傷測量,有些儀器生產(chǎn)商甚至將其實現(xiàn)了便攜式測量。

技術(shù)原理

LIBS技術(shù)的主要原理為:應(yīng)用激光脈沖剝蝕樣品表面,形成等離子體(激發(fā)的原子和離子)。等離子體冷卻過程中,外層電子躍遷至低能態(tài),發(fā)射出不同波長的光,這些光被檢測器接收,用于樣品組成的分析。

XRF技術(shù)原理為:X-射線射入樣品,激發(fā)出內(nèi)層電子,導致電子結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定,電子由高能軌道向低能軌道躍遷,在此過程中發(fā)射出X-射線,每種元素有其的X-射線。這些X-射線被檢測器接收,用于樣品元素的分析。

檢測元素的范圍及檢測限

LIBS幾乎可檢測元素周期表上所有元素:

- 可檢測輕元素,檢測限達1-10’s ppm,如Li, Be, B, Na, Mg, Al ,Si等;

- 可檢測C, H, N.O,等生命組成元素,需要注意H, N, 和 O,測量時,樣品室需要緩沖氣體;

- 對于堿土類元素及過渡金屬元素檢測靈敏度高,檢測限達10’s ppm水平。

某些非金屬元素如S, As和鹵族元素如Cl, Br, ,I不適于空氣中LIBS檢測,需要選擇凈化氣體或壓力可調(diào)的測量室來提高檢測限。

XRF適合監(jiān)測重金屬類的元素,Ti以上元素的監(jiān)測限為10-150ppm;較輕的元素,如Mg,Al,Si等,檢測限降低100倍;輕于Na的元素,基本上不能正常檢測。

測量時間

LIBS等離子體的壽命為10-100微妙,在此過程中系統(tǒng)完成LIBS數(shù)據(jù)的采集。因此,LIBS的測量速度非常快,一個單脈沖的LIBS分析僅需要幾秒鐘的時間。為了提高檢測的準確度及靈敏度,LIBS可取多測量點的平均值,ASI公司的LIBS激光器發(fā)射脈沖為20 Hz,所以測量20個點平均值的時間為1s。

有些XRF分析儀的生產(chǎn)商宣傳XRF的分析時間為幾秒鐘,這是誤導。對于低濃度的測量,X-射線熒光的信號非常弱,為了獲得適宜分析的信號,需要幾分鐘得信號累積時間。一般來說,XRF的測量時間取決于分析的濃度及要求的測量精度,低濃度高分精度的測量,往往需要數(shù)分鐘的時間。

樣品前處理

X-熒光射入樣品表面,某些樣品射入深度達1mm,甚至更深,對于很薄的樣品層,很容易射入樣品層以下的部分,從而影響到分析結(jié)果。因此,對于很薄的樣品,分析之前需要提取。另外,樣品的形狀、厚度、大小等都會影響測量結(jié)果。因此,為了更好的測量效果,常需要將樣品做成粒狀進行分析。

LIBS分析幾乎不需要樣品前處理。同樣是測量非常薄的樣品,LIBS的激光能量可調(diào)以適應(yīng)樣品層的厚度,這樣就不會產(chǎn)生樣品層下面的部分對測量結(jié)果的影響。另外,LIB可以將樣品處理過程和分析過程整合在一起,例如,如果分析樣品層的上面覆蓋一層非分析層,可以首先利用激光脈沖將非分析層去除,然后進一步剝蝕即為分析過程,這樣剝蝕過程即消除了非分析層對測量結(jié)果的影響,又同時分析了樣品層。但對于表面特性差異很大的樣品,例如,表面元素分布變化較大的土壤樣品,為了確保分析結(jié)果的準確性,在分析前,將樣品做磨碎、混勻、成粒處理。不過,對于非勻質(zhì)樣品的分析,LIBS也可通過大面積取樣然后取平均值的方式進行。

總結(jié):

下面以2μm 厚度的錫(Sn)鍍層測量為例,對XRF和LIBS技術(shù)的比較如下:

指標

XRF技術(shù)

LIBS技術(shù)

縱向分辨率

大于10 μm

30 - 100 nm

橫向分辨率

10μm - 1mm

10μm

測量時間(2μm厚樣品)

數(shù)分鐘

數(shù)秒

檢測限

100 - 1000 ppm

1 - 10’s ppm

樣品前處理

打磨,裝載

不需要復雜的前處理

測量環(huán)境

大氣或真空

大氣或緩沖氣體測量室

檢測元素種類

主要檢測重金屬元素,鈉以下元素無法檢測

元素周期表上幾乎所有元素


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