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深圳市賽麥吉圖像技術(shù)有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：298條

所在地區(qū)：廣東深圳市

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IKEGAMI照相機測試卡

詳細摘要：這張IKEGAMI CPU-測試卡可以設置IKEGAMI照相機可在4:3和16:9的縱橫比之間切換。
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
急性分辨率測量卡多沖擊測試圖

詳細摘要：測試圖設計用于急性分辨率測量。該測試圖卡由6行每行10個矩陣脈沖串組成。
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
波帶片測試圖卡

詳細摘要：借助低傳輸濾波器和低電平照明，確保相機在開口處于打開位置時不會過度調(diào)制。
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
正弦曲線多脈沖測試卡

詳細摘要： TE204設計用于測量攝像機的分辨率。它包含0.5-10MHz的正弦多波束模式。
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
傾斜邊緣傾斜棋盤卡

詳細摘要： TE261傾斜邊緣目標在背景中有一個傾斜的棋盤，5個低對比度傾斜邊緣和前面的周圍灰色補丁。
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
IKEGAMI設置測試圖卡(HK322)

詳細摘要： TE185專為 Ikegami相機的自動設置而設計。
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
棋盤測試圖鏡頭多功能棋盤測試卡

詳細摘要： TE102測試圖被設計為檢查幾何和分辨率。
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
棋盤測試卡分辨率畸變測試卡

詳細摘要： TE102測試圖被設計為檢查幾何和分辨率。
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
幾何（BALL）測試圖

詳細摘要： T06測試卡被設計用來檢查幾何和分辨率。
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
棋盤測試圖幾何分辨率測試卡

詳細摘要： T06測試卡被設計用來檢查幾何和分辨率。
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
幾何（BALL）測試卡畸變卡

詳細摘要：測試圖設計用于測量的攝像機和監(jiān)視器的幾何形狀。
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
EAJ|JC|F邊緣效應測試卡黑白測試卡

詳細摘要：測試圖卡黑色背景的中心位置有一個白色十字架。??
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
散射光測試卡SET A+B

詳細摘要：調(diào)節(jié)測試圖的照明，使用2/3 CCD的F/4光圈和1/2 CCD的F/2.8光源獲得99%的白度水平。
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
灰階測試卡SFR測試卡

詳細摘要：測試卡用于檢查數(shù)字系統(tǒng)響應于傾斜鋒利邊緣階梯函數(shù)的MTF分析。
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
攝像機幾何校準測試卡畸變卡

詳細摘要：它由中心一個大圓和周圍的八個位圈。且在9個位置有臥式/立式分辨率楔子。
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
CCD重合測試卡

詳細摘要： CCD傳感器建成垂直行像素。這些垂直行將干擾通用型定位圖的垂直線。
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
混疊測試圖走樣畸變測試卡

詳細摘要： TE173專門用于測量走樣?；殳B效應是兩個位圖的波紋扭曲造成的干擾。
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
演播室攝像機陣容測試卡

詳細摘要： BBC65是原BBC No.59的新版本測試卡。這張測試卡開發(fā)主要是為了滿足簡化工作室內(nèi)每天都需要的相機陣容短時間內(nèi)檢測需求。
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
整塊紅色測試卡透射卡

詳細摘要：該測試卡設計用于測量色度通道行為，表示為信噪比。
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言
條塊（BAR）測試卡深度頻率傳輸卡

詳細摘要：這張條塊測試卡專門設計為了檢測電視攝像機的中級和深度頻率的傳輸特性。
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時間：2022-09-17 在線留言