詳細(xì)介紹


接線盒濕熱老化性能試驗箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在高低溫或濕熱環(huán)境下、檢驗其各性能項指標(biāo)。
內(nèi)部尺寸:W500mm×D450mm×H450mm;
溫度范圍:RT+10~150℃;
溫度均勻度:≤2.0℃;
溫度波動度:≤1.0℃;
溫度偏離度:≤2.0℃;
升溫速度:平均 3℃/min;
降溫速度:平均 1℃/min;
濕度范圍:20~95%RH;
濕度波動度:+2~-3%@(>75%RH) & ±5%@(≤75%RH);
濕度偏差:≤±3%RH;
接線盒濕熱老化性能試驗箱滿足標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 5170.2-2008 溫度試驗設(shè)備
GB/T 5170.5-2008 濕熱試驗設(shè)備
GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗方法Bb
GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)低溫試驗方法:試驗A
GJB150.3-1986 高溫試驗
GB/T2423.3-2006(IEC60068-2-78:2007)恒定濕熱試驗方法Cab
GB/T2423.4-2008(IEC60068-2-30:2005) 交變濕熱試驗方法Db
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法
GJB150.9-1986 設(shè)備環(huán)境試驗方法:濕熱試驗
GJB4.5-1983 船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗
GJB4.6-1983 船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗交變濕熱試驗
GJB367.2-1987 通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗方法411 濕熱試驗
GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗
GB/T10586-2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件
GJB150.9-1986 濕熱試驗